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產(chǎn)品中心材料樣品檢測(cè)微型真空探針熱臺(tái)低溫真空探針臺(tái)鄭科探
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低溫真空探針臺(tái)鄭科探主要應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。
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產(chǎn)品分類| 品牌 | 鄭科探 |
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低溫真空探針臺(tái)鄭科探主要應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。
低溫真空探針臺(tái)鄭科探的承載臺(tái)為60x60不銹鋼臺(tái)面，臺(tái)面最高可升溫到最高350℃。真空腔體設(shè)計(jì)有進(jìn)氣口和抽真空接口。探針臂為X/Y/Z三軸移動(dòng)，三個(gè)方向均可在真空環(huán)境下精密移位調(diào)節(jié)，其中X方向調(diào)節(jié)范圍：0－30mm；y方向調(diào)節(jié)范圍：0－20mm；z方向調(diào)節(jié)范圍：0－20mm；用戶可根據(jù)需要自行調(diào)節(jié)。使用時(shí)將需檢測(cè)的器件固定在加熱臺(tái)上，再微調(diào)探針支架X/Y/Z 方向行程，通過(guò)顯微鏡觀察，使探針對(duì)準(zhǔn)檢測(cè)點(diǎn)后，即可進(jìn)行檢測(cè)
參數(shù)；
真空腔體 | ||
加熱型 | 冷熱型 | |
腔體材質(zhì) | 304不銹鋼 | |
上蓋開啟 | 鉸鏈側(cè)開 | |
加熱臺(tái)材質(zhì) | 304不銹鋼 | |
內(nèi)腔體尺寸 | φ160x90mm | |
觀察窗尺寸 | Φ70mm | |
加熱臺(tái)尺寸 | φ60mm | |
觀察窗熱臺(tái)間距 | 75mm | |
加熱臺(tái)溫度 | 35-350℃ | -196-350℃ |
加熱臺(tái)溫控誤差 | ±1℃ | |
真空度 | 機(jī)械泵≤10Pa 分子泵≤10-3Pa | |
允許正壓 | ≤0.1MPa | |
真空抽氣口 | KF25真空法蘭 | |
氣體進(jìn)氣口 | 3mm-6mm卡套接頭 | |
電信號(hào)接頭 | SMA轉(zhuǎn)BNC X 4 | |
電學(xué)性能 | 絕緣電阻 ≥4000MΩ 介質(zhì)耐壓 ≤500V 漏電流 ≤-10次方安培 | |
探針數(shù)量 | 4探針 | |
探針材質(zhì) | 鍍金鎢針 | |
探針尖 | 10μm | |
探針移動(dòng)平臺(tái) | ||
X軸移動(dòng)行程 | 30mm ±15mm | |
X軸控制精度 | ≤0.01mm | |
Y軸移動(dòng)行程 | 13mm ±12.5mm | |
Y軸控制精度 | ≤0.01mm | |
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